IRIS Combined X-Ray Fluorescence & Reflectance Spectroscopy Scanner System è uno scanner mobile che permette la scansione simultanea di una macro area mediante spettroscopia di fluorescenza a raggi X (MA-XRF) e spettroscopia Vis-NIR in riflessione.
La spettroscopia di fluorescenza a raggi X a scansione (MAXRF) consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree di una superficie. L’analisi in scansione mediante spettroscopia Vis-NIR in riflessione consente l’acquisizione di immagini iperspettrali in un ampio intervallo spettrale che forniscono informazioni sia sulla distribuzione e che sulla natura chimica di componenti inorganiche e organiche. L’informazione ottenuta dalle due tecniche viene raccolta in modo combinato per ogni punto della superficie scansionata integrando l’informazione chimica elementare con quella molecolare.
Caratteristiche:
● lampada alogena (360 – 2400 nm, potenza nominale: 20W);
● due rivelatori (2048 canali, range spettrale 400-1100 nm con risoluzione di 1.5nm; 512 canali, intervallo spettrale 1100-2500 nm, risoluzione 8.9 nm);
● tubo a raggi X con anodo di Rodio (finestra: Be 250 μm; 50 kV; 200 μA; collimatori: 0.5 mm, 1 mm o 2 mm). Possibilità di avere filtri in trasmissione;
● rivelatore SSD (area attiva: 50 mm² ; Detector thickness: 450 μm; risoluzione Mn-Kα: 140 eV; Dead layer thickness: 0.15 μm; finestra: Be 12.5 μm);
● frame motorizzato XYZ per eseguire mappe.
Configurazioni disponibili:
● il sistema è stato progettato per una scansione in situ, veloce e non invasiva del campione.
Applicazioni principali:
● studio combinato della distribuzione delle specie atomiche e molecolari in un campione;
● caratterizzazione dei materiali inorganici e organici;
● studio delle tecniche pittoriche;
● supporto diagnostico per il restauro e la conservazione di manufatti.

Artax 200 è uno strumento XRF portatile, utilizzato nel campo dei beni culturali per la possibilità di misure in situ e non invasive. Il sistema esegue un’analisi simultanea multi elemento con numero atomico maggiore o uguale a 13.
Caratteristiche:
● sorgente: tubo a raggi X ad anodo di Mo (10 – 50 kV, 5 µA min – 200 µA max);
● rivelatore: Large Silicon Drift con area attiva di 25 mm², finestra: 12 µm di Be;
● risoluzione: minore di 135 eV alla MnKα con raffreddamento Peltier;
Configurazioni disponibili:
● misure in “grazing-emission”
Applicazioni principali:
● analisi di pigmenti di dipinti e affreschi e individuazione di eventuali restauri;
● sviluppo di nuove metodologie per ottimizzare i dati XRF acquisiti con strumenti a scanner, in modo da ottenere mappe di distribuzione elementare.

Apparato strumentale messo a punto in laboratorio per misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura. Lo strumento permette di misurare la luce emessa sotto irraggiamento X (radio-luminescenza) a temperatura costante, o l’emissione termicamente stimolata (termo-luminescenza).
Caratteristiche:
● sorgente: raggi X (10 – 40 kV);
● intervallo di temperatura: 10-320 K.
Configurazioni possibili:
● misure su campioni solidi e in polvere;
● per campioni liquidi è possibile la misura di radioluminescenza a temperatura ambiente oppure è possibile depositare la soluzione in crogioli metallici.
Applicazioni principali:
● caratterizzazione e studio di difetti in materiali luminescenti per scintillazione e dosimetria.