Ellissometria e film sottili: la Prof.ssa Adele Sassella al webinar Optics

Ellipsometry Study of Porous Polymer Thin Films: Refractive Index Tuneability
La professoressa Adele Sassella ha portato il suo contributo al webinar promosso dalla rivista Optics, punto di riferimento per la diffusione della ricerca in ottica e fotonica. Il webinar fa seguito all’uscita del numero speciale Optoelectronic Functional Thin Films, dedicato ai più interessanti progressi scientifici e tecnologici degli ultimi anni nel campo dei film sottili optoelettronici.
Il seminario è stato organizzato con l’obiettivo di esplorare l’indagine scientifica dei film sottili, basata principalmente su tecniche spettroscopiche. Il primo intervento del Professor David Aspnes ha approfondito i metodi lineari e non lineari per la rimozione del rumore negli spettri, strumenti fondamentali per ottenere dati spettrali affidabili. Successivamente, la Professoressa Sassella ha mostrato come lo studio dei film sottili organici mediante ellissometria spettroscopica permetta di ottenere informazioni dettagliate sulle proprietà ottiche e sui parametri strutturali dei materiali. Infine, il Dottor Georgy Ermolaev ha presentato lo sviluppo e la caratterizzazione di film sottili di oro quasi bidimensionale prodotti su scala wafer e il loro impiego in dispositivi optoelettronici avanzati.
Il webinar ha evidenziato come l’uso di tecniche spettroscopiche avanzate, come l’ellissometria, e l’ottimizzazione dei dati spettrali siano strumenti chiave per comprendere le proprietà dei film sottili e guidare lo sviluppo di materiali per applicazioni optoelettroniche.
Per approfondire, leggi dell’evento sul sito di Optics.
